將舉辦微區(qū)掃描電化學新技術講座

2011-07-28

微區(qū)掃描電化學技術發(fā)展迅猛,在腐蝕和電沉積科學中的表面反映過程基礎研究，酶穩(wěn)定性研究，生物大分子的電化學反應特性，化學傳感器，點蝕孔蝕，涂層完整性和均勻性，涂層下或逾金屬界面間的局部腐蝕，緩蝕劑性能等相關領域得到廣泛應用,倍受科技工作者的關注。
    應亞太地區(qū)(日本、韓國、臺灣等)有關研究機構和大學的邀請,美國阿美特克公司普林斯頓應用研究（PAR） 長期從事微區(qū)掃描技術應用和開發(fā)的專家Dr.Rob Sides 將順訪中國,舉辦技術講座,并有掃描電化學工作站M370（SVP，SKP，SECM，LEIS技術四合一）設備作現(xiàn)場演示。屆時,將邀請國內(nèi)業(yè)界知名教授進行相關應用的講座。