Oxford牛津CMI900(X熒光鍍層測厚儀)
CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
高性能X射線熒光光譜儀
- 快速精確的分析：正比計數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度
- 簡單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素
- 性能優(yōu)化，測量元素范圍廣： 可預設參數(shù)
CMI900 提供800多種預設應用參數(shù)/方法
- 杰出的長期穩(wěn)定性：
- 自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結果
- 簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正
堅固耐用的設計
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可以在實驗室或生產線上操作
- 堅固的工業(yè)設計
- 經行業(yè)驗證的技術，在全球銷售量超過3000臺
- 電子元件
有效調整生產過程，從而提高生產力
- 確保元件可靠性
- 優(yōu)化質量控制，從而確保產品生命周期
- 分析導電性鍍層金和鈀的厚度
- 測量電腦硬盤上的NiP層厚度