全元素分析儀 EDX-645A 

三思專為高校、科研院所、商檢機構定制的高端EDXRF，SDD高分辨率探測器，牛津全套OEM光管和高壓系統(tǒng)，精密的光路系統(tǒng)，開放的智能軟件平臺，專業(yè)級分析功能，為科研人士打造的全功能、高品質國內精品分析儀器，是代替國外高昂儀器的唯一選擇。

【應用范圍】
元素分析：鋼鐵、有色金屬、塑膠、廢舊原料回收、玻璃、水泥、地質礦產(chǎn)、考古文物等
**環(huán)保指令檢測：RoHS、八大重金屬、無鹵素、HR4040等
**可擴展：鍍層測厚分析

【性能指標】
可測元素： 鈉(Na)－鈾(U)
同時可測元素： 36種
分析物質狀態(tài)： 固態(tài)、粉末、液體
含量分析范圍： 0.0002～100%
含量檢出限： 2ppm
含量相對誤差： 5～10%
分析 時 間： 60～300S
**可測鍍層： 最多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機薄膜
**鍍層種類： 單金屬、合金、無機薄膜
**精    度：  最高可達0.01um
**最小測量直徑： 2mm

【技術參數(shù)】
探 測 器：進口SDD半導體探測器，分辨率達139eV
X  光 管：鎢（W）靶，最大電壓50kV，最大電流1mA（靶材可定制）
          設計壽命長達5萬小時(牛津)
高壓電源：精密X射線專用電源，最高輸出電壓50kV
          穩(wěn)定度每8小時小于0.05%(牛津)
濾 光 片：多組濾光片電動切換，有效降低背景干擾
準 直 器：直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換,免去人工操作煩惱
對焦系統(tǒng)：旋鈕視覺對焦
樣 品 腔：大氣
樣品觀察：高清晰彩色CCD射線頭
X 射  線：三重X射線防護（樣品腔、機殼、程序控制），
          遠遠低于GB16355-1996防輻射標準
輸入電壓：AC 220V/50HZ
功    耗：260W
樣 品 腔：660×400×135mm
外型尺寸：680×460×475mm
重    量：45Kg

【功能特點】
采用進口的最新型探測器，對超低含量的元素都能探測；
自動安全的高壓防護電路設計；
獨創(chuàng)的光路系統(tǒng)，增大X射線強度，減少散射背景；
專門針對科研人員工作特點，軟件平臺更具開放性、專業(yè)性；
緊密封閉的腔體設計、電路控制、機械控制三重X射線防護；
靈活精準的分析軟件，既可進行簡單、快速的物質測試，滿足工業(yè)化生產(chǎn)需求，也可通過科學的參數(shù)配置滿足復雜、高精度的元素分析；
采用了國際最先進、復雜的X熒光分析算法，比任何同類軟件都要適應各種復雜、多樣的物質分析；
對分析樣品的狀態(tài)、形狀、大小自動進行校正，減少因制樣不足而帶來的誤差。