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SFT157X射線鍍層厚度測量儀

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SFT157X射線鍍層厚度測量儀

SFT157 X射線鍍層厚度測量儀,可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度,可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物

1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2.可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
3.備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。

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